光时域反射仪PCB抄板及样机仿制分析

光时域反射仪是一种能够准确测量光纤传输特性的仪表，以便能发现光纤障碍或隐患，及时了解光纤传输情况，光时域反射仪根据光的后向散射与菲涅耳反向原理制作，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等，是光缆施工、维护及监测中必不可少的工具。
芯谷集成电路有限公司一直致力于更高更新科技的PCB抄板研究，光时域反射仪是芯谷众多抄板成功案例之一，一下则是它的相关性能指标介绍：
　　﹡业内最好的光学技术指标
　　﹡最高的动态范围（1550 nm 波长为 50dB）
　　﹡最短的事件盲区（对于VLR模块为 80cm）
　　﹡业内最好的数据采样速度
　　﹡快速而精确的故障查找
　　﹡快速检测断点／故障
　　﹡精确的故障定位
　　﹡一键式自动测试
　　﹡无需特定的设置
　　﹡距离、损耗与ORL 测试
　　模块参数
　　模 块短距离模块VSRE中距离模块SRE长距离模块LR超长距离模块VHD
　　波 长1310/1550nm
　　（±20nm）1310/1550nm
　　（±20nm）1310/1550nm
　　（±20nm）1550nm
　　（±20nm）
　　脉冲宽度10ns to 10μs10ns to 10μs10ns to 20μs10ns to 30μs
　　动态范围31/2934/3243/4150
　　事件盲区0.8m0.8m0.8m0.8m
　　衰减盲区10m10m15m15m
　　作为一家长期专注反向技术研究的高新技术型企业，芯谷可提供多种案例产品的整机克隆、功能样机制作于调测、产品二次开发设计、PCB批量代工等服务，协助广大客户进行产品参考设计与技术研究应用。目前，芯谷提供上述产品的全套技术资料，并同时承接仿制克隆与二次开发项目合作，有意者请致电咨询详情。